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WinCamD-IR-BB 中遠(yuǎn)紅外光束質(zhì)量分析儀 2-16um 7.5Hz 中遠(yuǎn)紅外光束質(zhì)量分析儀基于相機(jī)的光束分析系統(tǒng)是使用極廣泛的，它無(wú)法獲得最高分辨率，但是對(duì)于低重復(fù)頻率脈沖激光、非高斯形狀光束或者一般用途的光束分析應(yīng)用，相機(jī)型光束分析儀是很好的選擇。此外，Dataray光束質(zhì)量分析儀通用的C/F-Mount接口設(shè)計(jì)，使外加衰減片、擴(kuò)束鏡、紫外轉(zhuǎn)換裝置、紅外轉(zhuǎn)換裝置更為方便。

超寬中紅外光束質(zhì)量分析儀(不帶M2測(cè)試，光敏面：15.3×12.2mm) 產(chǎn)品描述： 筱曉光子的紅外光束質(zhì)量分析儀，可以實(shí)現(xiàn)1.2-15μm范圍內(nèi)的光斑探測(cè)和參數(shù)分析，空間分析精度可達(dá)10μm量級(jí)，具有超感光范圍、超大靶面、超高分辨率、多功能軟件等特點(diǎn)。

超寬中紅外光束質(zhì)量分析儀(帶M2測(cè)試，光敏面：10.8×8.7mm) 產(chǎn)品描述： 筱曉光子的紅外光束質(zhì)量分析儀，可以實(shí)現(xiàn)1.2-15μm范圍內(nèi)的光斑探測(cè)和參數(shù)分析，空間分析精度可達(dá)10μm量級(jí)，具有超感光范圍、超大靶面、超高分辨率、多功能軟件等特點(diǎn)。

BladeCam2-HR CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1150nm 產(chǎn)品應(yīng)用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn) 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺(tái)測(cè)量 M²

BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1150nm 產(chǎn)品應(yīng)用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn) 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺(tái)測(cè)量 M²